2015.12.04 - Formelsammlung QM III
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2015.12.04 - Formelsammlung QM III
„Qualitätsmanagement III“
Prof. Dr.‐Ing. Matthias Mayer
Wichtiger Hinweis: Die nachfolgenden Formeln werden in der Klausur bei Bedarf
angegeben. Formeln, die in dieser Formelsammlung nicht aufgeführt
sind, die aber in der Vorlesung behandelt worden sind, müssen Sie für
die Klausur auswendig oder herleiten können!
Diese Formelsammlung dient lediglich Ihrer Vorbereitung und darf
nicht mit zur Klausur gebracht werden!
Formelsammlung
1 n 1
x
n i 1
x i ( x1 x 2 x3 ... x n )
n
1.2 Standardabweichung einer Stichprobe
2
1 n
s xi x
n 1 i 1
1.3 Varianz einer Stichprobe
2
1 n
s xi x
n 1 i 1
1.4 Normalverteilung
1.4.1 Dichtefunktion
∙ (‐ < x < )
∙√ ∙
1.4.2 Verteilungsfunktion
∙ (‐ < x < )
∙√ ∙
mit:
xi : (Mess‐)Wert i
n : Stichprobenumfang
µ : Erwartungswert (geschätzt durch den Mittelwert ̅
: Standardabweichung (geschätzt durch s)
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1.4.3 Standardnormalverteilung
Definiere:
heißt standard‐normalverteilt bzw. 0; 1 ‐verteilt und es gilt:
– Wahrscheinlichkeitsfunktion:
∙ (‐ < u <)
√ ∙
– Verteilungsfunktion:
∙ (‐ < u <)
√ ∙
– Insbesondere gilt:
0, 1, 1
1.4.4 Rechenregeln für Normalverteilung
– Es gelten für , , , ∈ mit und 0:
I.
II. 1 1 1
III.
IV. | | ∙ 2∙ 1
Hinweis: Verteilungsfunktion Φ (u) der Standardnormalverteilung und Quantile der
Standardnormalverteilung und siehe Anhang C
2 Messsystemanalyse
2.1 Verfahren 1: Prüfmittelfähigkeitsindizes
0,2 T
Cg
4 sg
0,1 T | x m x g |
C gk
2 sg
mit:
T : Toleranz
n : Stichprobenumfang
x : arithmetischer Mittelwert der n Messwerte
sg : Standardabweichung der Messwerte
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2.2 Verfahren 2: Mittelwert‐Spannweiten‐Methode
2.2.1 Wiederholpräzision des Messsystems EV (Equipment Variation / Repeatability)
EV K1 R
2.2.2 Vergleichspräzision des Messsystems AV (Appraiser Variation / Reproducibility)
AV x diff K2 2 EV 2
n r
2.2.3 Wiederhol‐ und Vergleichspräzision (R&R bzw. %R&R)
R & R EV 2 AV 2
R&R
%R & R 100%
RF
6 R & R
%R & R 100%
T
2.2.4 Teilestreuung (PV = Part Variation)
PV = R p K 3
2.2.5 K‐Faktoren
1
K mit ∗
aus Tabelle im Anhang B
d 2*
mit:
T : Toleranz
RF : Referenz (im Normalfall Toleranzbreite T)
n : Anzahl Prüfobjekte
r : Anzahl Wiederholungen
k : Anzahl der Prüfer
Rp : Spannweite aus ̅ mit i = 1, 2, …, n
̅ : Mittelwert der Messergebnisse des i‐ten Teils
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3 Maschinen- und Prozessfähigkeitsuntersuchung
3.1 ‐Anpassungstest
Gegeben:
– Zufallsvariable X mit unbekannter Verteilungsfunktion F x
Lösungsstrategie:
1. Unterteile x , … , x in k n Klassen (Intervalle) I , … , I . Bestimme die absoluten
Klassenhäufigkeiten n Anzahl der Stichprobenelemente in I für 1 i k
4. Wähle geeignetes Signifikanzniveau α mit 0 α 1 und berechne die kritische
Grenze c über P Z c 1 α. (Hinweis: Tabelle Quantile siehe Anhang A)
5. Falls z c: Annahme von H , sonst Annahme von H
3.2 Kolmogoroff‐Smirnoff‐Anpassungstest
Gegeben:
– Nullhypothese: H : F x F x für alle x
Alternativhypothese: H : F x F x für wenigstens einen Wert von x
Lösungsstrategie:
S x bezeichnet die empirische Verteilungsfunktion der Beobachtungen x1, …, xn
Die Größe D gibt den größten vertikalen Abstand zwischen hypothetischer und
empirischer Verteilungsfunktion an.
2. Die Hypothese H0 wird nun zum Niveau a verworfen, wenn gilt:
√n ∙ D d ; ∝ (Hinweis: Tabelle für d ; ∝ siehe Anhang C)
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3.3 Grubbs‐Test auf Ausreißer
Vorliegende Messreihe: x , … , x (Messwerte sind normalverteilt)
– Die Nullhypothese H01: x(1) (Kleinstwert) ist kein Ausreißer
wird zum Niveau a verworfen, falls T T ;
– Die Nullhypothese H0n: x(n) (Größtwert) ist kein Ausreißer wird zum Niveau a
verworfen, falls T T ;
– Hinweis: Kritische Werte T ; siehe Anhang C.
mit:
n : Stichprobenumfang
α : Signifikanzniveau
x : arithmetischer Mittelwert der Stichprobe
s : Standardabweichung der Stichprobe
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4 Qualitätsregelkarten
4.1 Vertrauensintervall für bei Vorliegen einer Normalverteilung mit bekannter
Varianz
Gegeben:
– μ; σ ‐verteilte Stichprobe x , … , x
Gesucht:
– Vertrauensintervall c ; c für μ
Lösungsstrategie:
3. Berechne x ∙∑ x .
4. Berechne das gewünschte Vertrauensintervall über c ; c x c∙ ;x c∙
√ √
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4.2 Design einer −s−Karte (genaues Verfahren)
mit:
OEG ‐ obere Eingriffsgrenze
UEG ‐ untere Eingriffsgrenze
OWG ‐ obere Warngrenze
UWG ‐ untere Warngrenze
M ‐ Mittellinie der Qualitätsregelkarte
n ‐ Stichprobenumfang
μ ‐ Schätzwert für µ
‐ Schätzwert für s
α ‐ Signifikanzniveau
⁄ ‐ Quantil der Standardnormalverteilung
; ‐ Quantil der Chi‐Quadrat‐Verteilung
Hinweis: Konstantentabelle siehe Anhang D
Quelle: nach Dietrich 2009, S. 263 f.
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4.3 Design einer −R−Karte (genaues Verfahren)
mit:
OEG ‐ obere Eingriffsgrenze
UEG ‐ untere Eingriffsgrenze
OWG ‐ obere Warngrenze
UWG ‐ untere Warngrenze
M ‐ Mittellinie der Qualitätsregelkarte
n ‐ Stichprobenumfang
μ ‐ Schätzwert für µ
σ ‐ Schätzwert für s
α ‐ Signifikanzniveau
u ⁄ ‐ Quantil der Standardnormalverteilung
w ; ‐ Quantil der w‐Verteilung
Hinweis: Konstantentabelle siehe Anhang D
Quelle: nach Dietrich 2009, S. 263 f.
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4.4 Vereinfachte Berechnung der Eingriffsgrenzen
mit:
OEG ‐ obere Eingriffsgrenze
UEG ‐ untere Eingriffsgrenze
k ‐ Anzahl der Stichproben
Hinweis: Konstantentabelle siehe Anhang D
Quelle: Dietrich 2009, S. 265 und Brunner 2011, S. 188
(aus Brassard, M.; Ritter, D.: Der Memory Jogger II, Goal/QPC. 1995
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Anhang A: Tabellen für Standardnormalverteilung und 2-Verteilung
Quelle: Papula 2011, Tabelle 1, S. 740
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Quelle: Papula 2011, S. 742
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Quelle: Papula 2011, S. 744
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Anhang B: Messsystemanalyse
Quelle: Ducan 1986 (entnommen Dietrich 2003)
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Quelle: Ducan 1986 (entnommen Dietrich 2003)
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Anhang C: Maschinenfähigkeit
Kolmogoroff-Smirnov-Anpassungstest
Quelle: Hartung 2002, S. 184
Quelle: Hartung 2002, S. 345
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Anhang D: Qualitätsregelkarte
Faktoren zur Schätzung der Standardabweichung
Quelle: Quelle: Dietrich 2009, S. 701
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Faktoren zur Berechnung der Grenzen von ̅ ‐s‐Karten (genaues Verfahren)
Quelle: Dietrich 2009, S. 704ff.
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Faktoren zur Berechnung der Grenzen von ‐R‐Karten (genaues Verfahren)
Quelle: Dietrich 2009, S. 704ff.
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Faktoren zur Berechnung der Grenzen von Qualitätsregelkarten (vereinfachtes Verfahren)
Quelle: Dietrich 2009, S. 704ff.
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