The field measuring device includes: a DC bias circuit for applying a DC bias voltage to an optical intensity modulator, disposed inside an area; and a DC bias control section for controlling the DC bias voltage, disposed outside the area.例文帳に追加

電界計測装置において、エリア内には光強度変調器にＤＣバイアス電圧を印加するＤＣバイアス回路を配置し、エリア外にはＤＣバイアス電圧を制御するＤＣバイアス制御部を配置する。 - 特許庁

To provide a DC bias circuit which can determine the DC bias voltage for a load resistance element while eliminating the influence by a bias transistor.例文帳に追加

バイアス用トランジスタの影響を除去して負荷抵抗素子のＤＣバイアス電圧を定めることができるＤＣバイアス回路を得ること。 - 特許庁

A DC bias is determined based on a DC current flowing when a test bias in which a DC bias is superposed with an AC bias is applied.例文帳に追加

直流バイアスと交流バイアスを重畳させたテストバイアスを印加した時に流れる直流電流に基づき、直流バイアスを決定する。 - 特許庁

The charging bias is AC bias larger than bias for image formation or bias obtained by superposing AC and DC bias so that the DC component is alternately changed to positive and negative states.例文帳に追加

帯電バイアスは画像形成時のバイアスより大きい交流バイアスや、交流、長流を重畳し直流成分が正負交互に変化するバイアスであるようにする。 - 特許庁

A DC bias current feed circuit 3 feeds a bias current to a semiconductor laser 4.例文帳に追加

ＤＣバイアス電流供給回路３は、半導体レーザ４にバイアス電流を供給する。 - 特許庁

At the time, an AC bias including a DC bias element is applied to the developing roller 12.例文帳に追加

この時、現像ローラ１２には直流バイアス成分を含む交流バイアスを印加する。 - 特許庁

A first DC bias power source 26a applying first DC bias Vdc1 and a first AC bias power source 27a applying first AC bias Vac1 are connected to a developing roller 23, and a second DC bias power source 26b applying second DC bias Vdc2 and a second AC bias power source 27b applying second AC bias Vac2 are connected to a magnetic roller 22.例文帳に追加

現像ローラ２３には、第１直流バイアスＶｄｃ１を印加する第１直流バイアス電源２６ａ及び第１交流バイアスＶａｃ１を印加する第１交流バイアス電源２７ａが接続されており、磁気ローラ２２には、第２直流バイアスＶｄｃ２を印加する第２直流バイアス電源２６ｂ、及び第２交流バイアスＶａｃ２を印加する第２交流バイアス電源２７ｂが接続されている。 - 特許庁

A detecting circuit for detecting a value of the DC bias current passing through the bias circuit is provided.例文帳に追加

またバイアス回路を流れる直流バイアス電流値を検出する検出回路を設ける。 - 特許庁