Fase 3
Fase 3
Fase 3
El estudiante debe estudiar las temáticas correspondientes a la Unidad 2, y realizar las siguientes
actividades:
Relacionar los patrones primarios, secundarios y de trabajo para las medidas requeridas
en el proceso de soldar y desoldar dispositivos electrónicos de montaje superficial.
Patrón primario
Patrón que es designado o ampliamente reconocido como poseedor de las más altas
cualidades metrológicas y cuyo valor se acepta sin referirse a otros patrones de la misma
magnitud.
Con base en el patrón nacional de capacitancia, el alcance de medición cubre un
intervalo comprendido entre 1 pF (10-12F) a 1 F. Para establecer los valores de
capacitancia de 1 pF a 100 pF se emplean capacitores de dieléctrico de sálica
fundida. Para el valor de 1 nF (10-9 F) se emplean capacitores de dieléctrico de
nitrógeno seco, para valores de 10 nF a 1 μF (10-6 F) se utilizan capacitores de
dieléctrico de mica, y Para valores de 10μF a 1 F se emplea un capacitor de cuatro
terminales cuyo funcionamiento está basado en transformadores de relación. Para realizar
el escalamiento a partir del patrón nacional, se utiliza un puente de capacitancia basado
en un divisor inductivo de tensión y capacitores de balance, los cuales permiten
realizar mediciones con relaciones de 1:1 y 10:1, con una resolución n de 0,1 aF.
Patrón secundario
Patrón cuyo valor se establece por comparación con un patrón primario de la misma
magnitud.
Estos son los laboratorios industriales donde se fabrican los condensadores, y se deben de
regir por la medida patrón de capacitancia que es suministrada o regulada por el patrón
nacional de capacitancia
Patrón de trabajo
Patrón que se utiliza corrientemente para calibrar o controlar medidas materializadas,
instrumentos de medida o materiales de referencia.
Los patrones de trabajo de capacitancia se pueden obtener en un amplio rango de valores.
Por lo general los valores más pequeños son capacitores de aire, mientras que los
capacitores más grandes utilizan materiales dieléctrico sólido. Las elevadas constantes
dieléctricas y las capas dieléctricas muy delgadas son la base de los patrones más
compactos.
De acuerdo a lo investigado en los numerales anteriores, realizar una lluvia de ideas para
proponer soluciones al problema plateado.
Establecer criterios para evaluar cada una de las ideas generadas y seleccionar como grupo
la idea que más se adecuada para dar solución al problema planteado.
Bibliografía
Chávez, A. F., Mejía, C. R., & Pacheco, D. G. (2009). Introducción a la metrología dimensional.
México: Instituto Politécnico Nacional. Pág 23-76. Recuperado de
https://bibliotecavirtual.unad.edu.co:2538/lib/unadsp/detail.action?docID=3191644#