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net/publication/266203119
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1 author:
El Kissani Abdelkader
Cadi Ayyad University
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Electrical properties of CuAlTe2 thin films and MoCuAlTe2 contact prepared by rf sputtering View project
Preparation and characterisation of new materials for solar cells View project
All content following this page was uploaded by El Kissani Abdelkader on 30 October 2014.
Résumé
Cu2ZnSnS4 (CZTS) est un candidat potentiel utilisé comme couche absorbante pour les
cellules solaires. Dans le présent travail, les films minces de Cu2ZnSnS4 (CZTS) ont été
fabriqués sur des substrats de verre par la technique spin-coating à partir d’une solution
contenant (CuCl2), (ZnCl2), (SnCl2, 2H2O) et la thiourée dans l’éthanol. Leurs propriétés
structurales, morphologiques et optiques ont été étudiées. L’analyse par DRX a montré que
les films ainsi obtenus sont cristallisés dans la phase kësterite de CZTS. Un recuit à une
images MEB ont montré que la surface des films est uniforme et rugueuse. Les mesures
optiques ont montré que pour les couches non recuites, la largeur de la bande interdite (gap)
1. Introduction
L’intérêt du quaternaire kësterite Cu2ZnSnS4 (CZTS) pour les cellules solaires repose sur
est entre 1,4 eV et 1.5 eV, permet d'utiliser une plus grande partie du spectre solaire.
Deuxièmement, son coefficient d'absorption est élevé avec une valeur voisine de 104 cm-1.
Troisièmement, elle est formée d’éléments abondants et moins chers que l’indium ou le
16ème Edition des Journées Internationales de Thermique
gallium. Finalement, sa toxicité est moindre que celle de certains autres matériaux contenant
du cadmium et du sélénium.
Plusieurs méthodes ont été employées pour l’élaboration des couches minces de CZTS,
vapeur [5], le sol-gel [6] l’électrodéposition [7], pyrolyse spray [8], l’ablation laser [9],
Dans le présent travail, des films poly-cristallins kësterite CZTS ont été élaborés par la
2. Procédure expérimentale
Les couches minces de Cu2ZnSnS4 (CZTS) ont été préparées par la technique spin coating sur
des substrats de verre sodocalcique avec une vitesse de 3000 tr/min pendant 30 s. Le sol, de
couleur jaunâtre, a été formé par agitation à température ambiante d’une solution contenant
du Chlorure de Cuivre (CuCl2.) (2 M), du Chlorure de Zinc (ZnCl2) (1.2 M), du Chlorure
dissous dans l’éthanol et l’eau distillé (70%-30%). Les solvants dans les films élaborés ont
été éliminés par séchage sur une plaque chauffante à une température 110°C. Les films ont
par la suite subit un recuit à 450 °C pendant une heure dans un vide de l’ordre 10-4 mbar.
La structure des films a été étudiée par diffraction des rayons X (DRX) grâce à un
diffractomètre X-pert MPD. Leur microstructure a été examinée par microscope électronique
3. Résultats et discutions
Figure 1 montre les spectres de diffraction des rayons X (DRX) des films bruts et ceux qui ont
subit un recuit à 450 °C. Comme on peut le constater sur cette figure, les diagrammes des
films déposés soit avec ou sans recuit sont dominés par les trois pics principaux (112), (220)
et (312) de la phase kësterite [JCPDS card : 26-0575]. Aucune croissance dans une direction
préférentielle n’est observée puisque les intensités relatives des ces pics sont en accord avec
celles des diagrammes des poudres. Aucune phase secondaire n’est observée, ce qui suggère
que les films CZTS ont une bonne cristallinité. On peut aussi remarquer que l’intensité des
pics augmente et leurs largeurs à mi-hauteur diminuent avec le recuit, suggérant ainsi que le
recuit améliore la cristallinité des films sans pour autant affecter leur structure.
240
211
220
intensity(a.u)
160
312
450°C
200
224 314
80
sans recuit
0
30 60
2θ(Deg)
Figure1 Spectres de diffraction des rayons X des couches Cu2ZnSnS4 avec et sans recuit
0.9
=
(2
)cos (
)
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où λ est la longueur d’onde des rayons X, ∆(2θ) est la largeur à mi-hauteur, θ est l’angle de
diffraction du pic (211). La taille des cristallites des films de CZTS déposés sans recuit est de
l’ordre de 5.8 nm, alors qu’elle est de l’ordre 12.8 nm pour les films CZTS recuits à 450°C.
La morphologie de nos films a été étudiée avec le microscope électronique à balayage. Les
images MEB des films sont représentées sur les figures 2 (a et b). La surface des films CZTS
(Figure 2 (a et b) est uniforme, rugueuse et contient des pores. La présence de pores dans les
films peut être attribuée à l’évaporation des solvants lors de la phase de séchage. Le recuit
sous vide (10-4mbar) à 450°C pendant une heure a augmenté le degré de cristallinité des films
Figure 2 (a) Image MEB des films CZTS Figure 2 (b) Image MEB des films CZTS avec recuit à
450°C
sans recuit.
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La figure 3 montre la transmission optique des films de CZTS dans la gamme de 200-2000
nm. Le spectre obtenu pour un film typique (Figure 2) montre la variation de la transmittance
λ< 800 nm un domaine caractérisé par une forte absorption du rayon rayonnement lumineux
• 800 nm < λ < 2000nm un domaine caractérisé par une forte transmission tend vers des
contraste dans la région de grandes longueurs d’onde. Ceci indique que la surface de
nos films est rugueuse et que les interfaces avec ne sont pas parfaitement lisses ce qui
1 1
= Ln
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Le gap optique de nos couches a été déterminée par l’exploitation de la partie linéaire de la
courbe (αhυ)2= f(hυ) (Figure 3), qui est valable dans le cas des transitions inter bandes
directes. La valeur obtenue est de l’ordre de 1,55 eV qui est proche de celle donnée par la
4. Conclusion
Nous avons déposé des couches minces de Cu2ZnSnS4 (CZTS) par la technique spin-coating
et sans sulfirisation à partir d’un précurseur sol-gel. Nous avons étudié l’effet de recuit sous
vide (10-4mbar) à 450°C sur la cristallinité des films minces de CZTS. Les résultats obtenus
par diffraction des rayons X ont montré la formation de la phase kësterite du matériau
Cu2ZnSnS4. La caractérisation optique a montré que nos films ayant un caractère absorbant
dans la gamme du visible (380-800 nm). La largeur de la bande interdite est 1.55 eV qui est
Références
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