Diskussion:Rasterkraftmikroskop

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Ungünstige Formulierung

Die Formulierung: "Nähert sich die Spitze der Probe an, kommt es schließlich zu einem Sprung der Spitze auf die Oberfläche, der durch kurzreichweitige attraktive Kräfte hervorgerufen wird." halte ich für sehr schlecht gewählt. Kommt der Sprung nicht schon auch dadurch zu Stande, dass die (unendlich weit reichende) VdW-Kraft ab einer bestimmten Distanz die Kräfte überwiegt, welchen den Cantilever in Form halten? Welche kurzreichweitigen Kräfte sind gemeint? Ich bin der Meinung, dass diese erwähnt oder ein Beispiel genannt werden sollte. Gruß, Atomi (nicht signierter Beitrag von 129.206.127.102 (Diskussion) 17:18, 2. Aug. 2012 (CET))

Messung der CD-Oberfläche

Das Bild sieht aus wie ein Phasenbild, jedoch ist eine Höhenskala angezeigt. Interpretiert man das Bild nun anhand der Skala sollten die Strukturen auf der CD alle aussehen wie Keile (auf der eine Seite höher als auf der anderen). Bitte, das zu korrigieren. Vorlage:Atomi (ohne Benutzername signierter Beitrag von 129.206.127.102 (Diskussion))

Nanoindentation

Hallo, im Bereich der dünnen Schichten kommt immer häufiger der Begriff "Nanoindentation", meiner Meinung nach AFM mit einer sehr feinen Nadel im Kraft-Abstands-Kurven-Modus. Liege ich da richtig? Gruß nikite (nicht signierter Beitrag von 80.138.203.54 (Diskussion) 09:31, 7. Nov. 2005 (CET))

Blattfeder, Cantilever, Spitze, Tip, Chip

Im Anfang des Artikels kommt es entweder zu einer beliebten Verwechslung der o.g. Begriffe, oder es ist nur unglücklich ausgedrückt. Deshalb hier der Hinweis: An einem Chip (makroskopische Größe (ca. 3 X 1 mm²), meißt aus Si) ist ein Cantilever (Blattfeder) (Länge ca. 100µm (aber sehr unterschiedlich)) und an dem ist die Tip (Spitze) (verschiedene Geometrien, die hinterher auch über die Auflösung entscheiden, Stichwort Aspect Ratio), die eigentlich über die Probe gerastert wird.

Was die Anmerkung angeht, ob Herstellerlinks hier etwas verloren hätten würde ich in dem Sinne zustimmen, dass dort immer auch sehr gute Einführungen und weitere Literaturstellen zu verschiedensten SPM Themen zu finden sind.

mfg Felix Wählisch

(nicht signierter Beitrag von 212.222.128.20 (Diskussion) 17:47, 14. Mär. 2006 (CET))

Shear-force Regelung?

Ich bin mir nicht ganz sicher daher stelle ich das mal hier zur Diskussion. Sollte die Shear-force Methode hier auch vorgestellt werden, oder einen eigenen Eintrag bekommen? Bisher kann ich keinen Eintrag dazu finden.

Wer nicht weiss was das ist: Eine Spitze geklebt auf einem Bein einer Stimmgabel (piezoelektrisches Material) welche an ihrer Resonanzfrequenz schwingt (normalerweise mechanisch angeregt, aber elektrisch angeregt wird auch benutzt). Die Änderung der Phase und Amplitude der Stimmgabel wird zum Regeln des Abstands zur Oberfläche benutzt. Unterschiede zu "klassischem" AFM: Schwingung parallel zur Oberfläche (und nur wenige Picometer normalerweise). Die Stimmgabel gibt direkt das Signal wieder, es wird also kein Laser zum detektieren gebraucht -> besser für kombinierte Mikroskope. (nicht signierter Beitrag von 134.2.98.31 (Diskussion) 09:52, 21. Apr. 2008 (CEST))

Bessere Auflösung als Elektronenmikroskope?

"Damit hat das Rasterkraftmikroskop zusammen mit dem Rastertunnelmikroskop (RTM bzw. STM) die höchste Auflösung aller mikroskopischen Techniken." Das wage ich zu bezweifeln. Auf der Wikipedia-Seite zu Transmissionselektronenmikroskopen (TEM) heißt es beispielsweise "Die derzeitige Auflösungsgrenze liegt bei 0,05 nm." Also der Hälfte der hier genannten 0,1 nm. Auch die "durchschnittliche" Auflösung, die man mit Standard-Geräten im alltäglichen Gebrauch erzielt, düfte bei TEMs höher sein. (nicht signierter Beitrag von 192.53.103.200 (Diskussion) 11:40, 30. Jul 2012 (CEST))

Quellen

Ich habe versucht den Quellenverweis "2" (04/2011 Bild der Wissenschaft) der CO-Molekülspitze zu verfolgen, aber leider nicht gefunden. Sehr schade. (nicht signierter Beitrag von 2001:638:504:C07C:90AB:E9BE:8310:F2C8 (Diskussion | Beiträge) 20:36, 15. Mai 2013 (CEST))