D

N
O
I
C
C
A
R
IF

C H A R I D B E C E R R A G A LV I S
M E RY A N N E E S C O BAR H IT SC HE RI C H
CAMILO OSORIO CISNEROS
JORGE ROQUE VILLAMIZAR SANCHEZ

S
O
Y
RA

PRINCIPIOS BASICOS

RAYOS X
Los rayos x son ondas electromagnticas producidas por la desaceleracin de los
electrones cuando se detiene en un blanco.
Poseen elevada energa y pequea longitud de onda, la cual se encuentra entre 10^8 y 10^-12
Los rayos x fueron descubiertos por Roentgen en 1895

DIFRACCIN DE RAYOS X
Es una tcnica que sirve para determinar la estructura detallada de un material
Permite conocer los tomos, iones o molculas que lo forman.
Debido a este ordenamiento podemos determinar propiedades tanto fsicas como
qumicas de los materiales.

MTODOS DE DIFRACCIN
Existen varias tcnicas de difraccin de rayos x
-Ley de Bragg

-Mtodo de Laue

-Mtodo de polvo o Debye-Scherrer

METODO LAUE
HISTRICAMENTE FUE EL PRIMER MTODO DE DIFRACCIN. SE
UTILIZA UN POLICROMATICO DE RAYOS X QUE INCIDE SOBRE UN
CRISTAL FIJO Y PERPENDICULARMENTE A ESTE SE SITA UNA
PLACA FOTOGRFICA PLANA ENCERRADA EN UN SOBRE A PRUEBA
DE LUZ.
EL HAZ DIRECTO PRODUCE UN ENNEGRECIMIENTO EN EL CENTRO
DE LA PELCULA Y POR LO TANTO, SE PONE UN PEQUEO DISCO DE
PLOMO
DELANTE
DE
LA
PELCULA
PARA
INTERCEPTARLO
Y
ABSORBERLO

METODO LAUE EN MODO TRANSMISION

La pelcula se coloca detrs del cristal para registrar los rayos que son transmitidos por el cristal. Un lado
del cono de reflexiones de Laue es definido por el rayo de transmisin. La pelcula cruza el cono, de
manera que las manchas de difraccin generalmente se encuentren sobre una elipse

METODO DE LAUE EN MODO REFLEXION

La pelcula es colocada entre la fuente de rayo X y el cristal. Los rayos que son difractados en una
direccin anterior son registrados. Una parte del cono de reflexiones de Laue es definido por el rayo
transmitido. La pelcula cruza el cono, de manera tal que las manchas de difraccin se encuentran
generalmente estn sobre una hiprbola.

LEY DE BRAGG

Cuando los rayos X alcanzan un tomo interactan con sus electrones exteriores. Estos reemiten la
radiacin electromagntica incidente en diferentes direcciones y casi con la misma frecuencia . Este
fenmeno se conoce como dispersin de Rayleigh (o dispersin elctrica). Los rayos X reemitidos desde
tomos cercanos interfieren entre si constructiva o destructivamente

W I L L I A M

H. BRAGG (1862-1942) Y WILLIAM L. BRAGG (18701971) FUERON LOS QUE DEMOSTRARON LA UTILIDAD DEL
FENMENO
QUE
DESCUBRI
LAUE,
PARA
OBTENER
LA
ESTR UCTUR A INTERN A DE LOS CRISTALES

DONDE
D: DISTANCIA ENTRE LOS PARALELOS
: LONGITUD DE ONDA
N: NMERO ENTERO
: ANGULO ENTRE EL HAZ DIFRACTADO
Y LA DIRECCIN ORIGINAL DEL HAZ

Cuando un haz de rayos X choca contra la superficie de un cristal forma un ngulo de

Una parte del haz es dispersada por la capa de tomos de la superficie
Esta porcin del haz penetra en la segunda capa de tomos y vuelve que dan una fraccin dispersada que
pasa a la tercera capa y as sucesivamente
Este es un efecto acumulativo de dispersin producida por los centros del cristal

MTODO DE DEBYE-SCHERRER
El objetivo de esta tcnica es determinar el tipo de
estructura cristalina de un material, y los correspondientes
ngulos y aristas de la celda.
En este mtodo la muestra se pulveriza tan finamente
como sea posible y se asocia con un material amorfo, en
forma de eje acicular de 0.2 a 0.3 mm de dimetro.Se
aplica a polvos, finos granitos cristalinos; en este caso la
muestra se hace pasar un fino haz de rayos X
monocromticos por el sistema.

TECNICAS DE MEDICION
En el primer experimento de difraccin se realizo en 1912 con una pelcula sensible a los rayos x
Bragg uso una cmara de ionizacin montada sobre un brazo rotatorio que determinaba con mas precisin
los ngulos y las intensidades de difraccin
Por ello los mtodos fotogrficos, se utilizaron hasta 1970 y entre ellos destaca: los mtodos de Laue,
Weissenberg, precisin y oscilacin
Estos mtodos fueron reemplazados por mtodos goniomtricos acoplados a detectores puntuales

EQUIPOS Y FUNCIONAMIENTO
Cmaras:
Surgieron en 1920, actualmente se emplean mas los difractometros pero todava existen
mtodos de cmara muy tiles para los estudios y complementan los de difractometro
Menor costo que el difractometro
Tipos de
Cmaras:

DIFRACTOMETRO:
En los 40 sugieron nuevas configuraciones basadas en distintas combinaciones de los
5 movimientos basicos posibles en un difractometro de polvo:

DIFRACTROMETR
O DMAX 2200

GONIMETRO

Un gonimetro es un aparato semicrculo o

crculo graduado en 180 o 360.
Instrumento que sirve para medir ngulos,
usado en topografa, cristalografa,
radiodifusin y otras ciencias y tcnicas

CARACTERISTICAS:
Se obtiene que indica los angulos de difraccion (terminos) y las intensidades de la
radiacion difractada

PREPARACIN DE MUESTRAS

FLUORESCENCIA DE RAYOS X

Rpido, preciso y no destructivo, preparacin de la muestra sencilla y solo se requiere una pequea
cantidad de la misma
El anlisis se realiza en tres etapas
Excitacin de la muestra
Medida de la intensidad
Conversin de intensidad a concentracin

EDXRF: fluorescencia de rayos x midiendo la dispersin de energas

WDXRF: fluorescencia de rayos X midiendo dispersin de longitudes de onda

LIMITACIONES
La mayor limitacin de este mtodo es la necesidad de trabajar con sistemas cristalinos, por lo
que no es aplicable a disoluciones, a sistemas biolgicosin vivo, asistemas amorfoso
agases.

resulta imposible estudiar gases, lquidos y slidos desordenados por este mtodo.

La dbil interaccin de los rayos X con los tomos ligeros es otra desventaja de la tcnica en
aplicaciones, como la caracterizacin de nanomateriales.

las propiedadesionizantesde los rayos X pueden alterar o destruir las molculas del cristal
durante el experimento. Cuando esto ocurre, el modelo obtenido no refleja la verdadera
estructura molecular y puede dar lugar a interpretaciones errneas sobre sus propiedades.

APLICACIONES

EJEMPLOS EN CATALISIS
REVISTA COLOMBIANA DE FSICA, VOL.
34, NO. 2. 2002
APLICACIN ACTUAL DE LA
TCNICA DE DIFRACCIN DE
RAYOS X PARA LA
CARACTERIZACIN DE
PRODUCTOS FARMACUTICOS

ANLISIS DE FASE, CUALITATIVO Y CUANTITATIVO, PERMITE LA

DETECCIN Y CUANTIFICACIN DE POLIMORFISMOS CONTAMINANTES
QUE PUEDE SER USADO PARA ESTABLECER LA RELACIN EFICIENCIA DE
PRODUCCIN Y COSTO. EN FORMULACIONES MULTICOMPONENTE,
REVELA EL PORCENTAJE DE INGREDIENTE ACTIVO, EN RELACIN CON EL
PORCENTAJE DE CUALQUIER INGREDIENTE AMORFO USADO PARA
CONFORMACIN DE LA DOSIS FINAL
La difraccin de rayos X (DRX) es una tcnica analtica de uso frecuente en productos
farmacuticos de estado slido en la que se determinan parmetros como la estructura
cristalina, fases presentes, orientacin preferencial, tamao de grano, porcentaje de
cristalinidad.
Determinacin de estructura cristalina, dada la identificacin de los componentes
activos de una droga, la unidad de celda puede ser usada para
predecir la morfologa y las propiedades fsicas.

SNTESIS Y CARACTERIZACIN DE
CATALIZADORES NI/MCM-22,
PT/MCM-22
Y PT-NI/MCM-22
El objetivo de este estudio fue producir la zeolita MCM-22 y, a partir de sta, desarrollar
catalizadores de zeolitas
(Ni/MCM-22, Pt/MCM-22 y Pt-Ni/MCM-22). La obtencin de estos catalizadores se realiz
mediante el proceso de
intercambio competitivo de iones. Estos materiales se caracterizaron por Difraccin de Rayos X
(DRX),
Espectrometra de Energa Dispersiva (EDX), Termogravimtrico (TGA), y grado de adsorcin de
n-butilamina.

Caracterizaciones
Difraccin de rayos x (DRX): Se utiliz el mtodo de polvo, emplendose un difractmetro
Shimadzu DRX-6000
con radiacin CuK, tensin de 40 KV, corriente de 30 mA, tamao de paso de 0.020 2 y
tiempo por paso de
1.000 s, velocidad de barrido de 2(2)/min, con un ngulo de 2 recorrido de 3 a 50.
Anlisis qumico va espectrometra de rayos x por energa dispersiva (EDX): Esta prueba
consisti en determinar
la composicin qumica del material en forma cualitativa y semicuantitativa. El equipo utilizado
fue un
Espectrmetro de Rayos X por energa dispersiva - EDX-700 Shimadzu.
RESULTADOS Y DISCUSIN
Difraccin de rayos x (DRX)
El anlisis de difraccin de rayos X se utiliza para comprender los posibles cambios
estructurales de los slidos
despus de los tratamientos (de intercambio inico y la calcinacin) a los que fueron sometidos.
Las Figuras 1 y 2 muestran los patrones de difraccin de rayos X obtenidos para las muestras
precursora (MCM-

SNTESIS Y CARACTERIZACIN DE
CATALIZADORES NI/MCM-22,
PT/MCM-22
Y PT-NI/MCM-22
El objetivo de este estudio fue producir la zeolita MCM-22 y, a partir de sta, desarrollar
catalizadores de zeolitas
(Ni/MCM-22, Pt/MCM-22 y Pt-Ni/MCM-22). La obtencin de estos catalizadores se realiz
mediante el proceso de
intercambio competitivo de iones. Estos materiales se caracterizaron por Difraccin de Rayos X
(DRX),
Espectrometra de Energa Dispersiva (EDX), Termogravimtrico (TGA), y grado de adsorcin de
n-butilamina.

LAS FIGURAS 3, 4 Y 5 MUESTRAN LOS PATRONES DE DIFRACCIN DE RAYOS

X CORRESPONDIENTES A LOS CATALIZADORES
NI/MCM-22, PT/MCM-22 Y PT-NI/MCM-22.

Los difractogramas corresponden a los catalizadores tras el intercambio de iones con complejo
tetraminoplatnico [Pt(NH3)4], hexaminonquel [Ni(NH3)6], y una solucin con ambos complejos (Figuras 3, 4
y 5,
respectivamente), y despus del proceso de calcinacin. Al comparar estos patrones con el patrn de
difraccin
de rayos X de la zeolita Na-MCM-22 (Figura 2), se observ que las distancias basales interplanarres
permanecieron casi sin cambios. Consecuentemente, los picos caractersticos de la estructura cataltica
MCM-22
se mantuvieron intactos, conservando la cristalinidad de todas las muestras superior al 97%, lo que significa
que
el proceso de intercambio inico y la calcinacin no afect la cristalinidad.

Despus del proceso de intercambio inico competitivo de platino y nquel en la MCM-22, su

presencia se
verifica a travs del contenido de platino (Pt) y nquel (Ni) en la muestra. Puede verse que el
porcentaje de
impurezas en los catalizadores fueron menores en comparacin con el precursor y la zeolita,
dando lugar a un
material ms puro.

CONCLUSIONES
La formacin del precursor laminar zeolita MCM-22 (P) es posible en las condiciones descritas en el trabajo. Este
precursor fue identificado a travs de patrones de difraccin de rayos X, donde se encuentran los picos (001) y
(002), que representan una estructura laminar. Este material, al ser sometido a calcinacin, dio lugar a un
material
puro y cristalino, la zeolita MCM-22, cuyos patrones de picos de difraccin fueron ms intensos y mejor definidos.
A partir de los datos de composicin qumica, obtenidos por EDX, se confirm que el precursor de MCM-22 (P),
la zeolita Na-MCM-22 y los catalizadores Pt/MCM-22, Ni/MCM-22 y Pt-Ni/MCM-22, muestran un alto contenido de
slice, en comparacin con otras especies que estn presentes en el material analizado.
De ello se deduce que, a partir de las mediciones de absorcin de n-butilamina, las prdidas masa total de los
catalizadores presentan una reduccin considerable en la cantidad de n-butilamina fisisorbidas para el
catalizador bimetlico. Esta reduccin puede ser atribuida los xidos de platino y el nquel (PtO2 y NiO) formados
en la superficie, que se encuentra bloqueando parcialmente la misma.

BIBLIOGRAFA
http://
www.tdx.cat/bitstream/handle/10803/6831/04Nam04de09.pdf?se
quence=4
Avances en Ciencias e Ingeniera - ISSN: 0718-8706 SYNTHESIS AND
CHARACTERIZATION OF CATALYSTS Ni/MCM22, Pt/MCM-22AND PtNi/MCM-22Universidade Federal de Campina Grande, Centro de Ciencia
y Tecnologa,Departamento de Engenharia Qumica.
PRINCIPIOS DEL ANALISIS INSTRUMENTAL; SKOOG 5TA EDICION MC GRAW
HILL
http://
www.icb.csic.es/fileadmin/grupos/ProcesosQuimicosAvanzados/XR
D_USJ.pdf
CIENCIA E INGENERIA DE LOS MATERIALES ASKELLAND